TEM液體加熱樣品桿的使用可提高原位設備的安全性
更新時間：2021-03-29 點擊次數：2111
TEM液體加熱樣品桿可實現樣品的液氛環境埃米級高分辨成像和準確、均勻、安全控溫。液體流道采用惰性材料防腐設計，進液采用納流體微分控制方式，可以有效防止滲漏，革命性提升原位設備安全性，保障實驗過程電鏡安全。對應電鏡原位觀察而言，可觀察范圍基本在微米級別，整體可觀察體積小于納升，因此過量液體對實驗毫無幫助，且引入巨大安全風險，我司的原位液氛納流控安全管理系統實現納升級別液體引入，高效準確的納流體微分控制液體的流速流量及準確通過樣品觀察區域，且實驗中引入總液體極其微量（小于25 μL），即使在芯片窗體薄膜破裂的情況下，也不會有大量液體滲漏，使得電鏡的安全得以保證，并且實驗不受影響，可持續進行。并且，液體流速可控（0~15 μL/s），分辨率可達5 nL/s。 TEM液體加熱樣品桿的溫度控制準確： 四電極形成反饋控制系統，控溫準；觀測區域全覆蓋，升溫快、溫度場穩定且均勻，升溫過程樣品不漂移；對芯片進行自動校正和模擬出*優的升溫曲線。
