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透射電鏡力電原位系統通過MEMS(微機電系統)芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統。該系統結合了多種透射電鏡(TEM)的分析模式，以實現對樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化的實時監測，能夠為研究納米尺度材料及器件提供電學性能分析支撐。透射電鏡力電原位系統的應用如下：1.材料科學：用于研究材料的晶體結構、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相變和相互作用。這對于新材料的開發與性能優化具有重要...

透射電鏡4孔樣品桿是一種在透射電子顯微鏡(TEM)中使用的關鍵部件，它允許研究人員同時將最多4個樣品置入透射電鏡中進行觀察和分析。與市面常見的3孔樣品桿相比，透射電鏡4孔樣品桿大幅提高了透射電鏡的使用效率。可實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。透射電鏡4孔樣品桿的主要特點：1、高效性：可同時放置4個樣品，顯著提高實驗效率。2、高精度：采用超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質量。3、創新設計：創新的彈性銅片固定方式和超高精度旋鈕，進一步減小漂移，提升成像效果...

高真空存桿儀是一種專為透射電子顯微鏡(TEM)樣品桿設計的設備，它主要用于為樣品桿提供高真空的存儲環境，以避免樣品桿在存儲過程中吸附濕氣、納米纖維等雜質，從而減少對TEM真空腔室的污染，該產品的設計有便捷的取放機制，使得研究人員可以輕松地取出和放回樣品桿，提高實驗效率。本公司提供的CHIPNOVA高真空存桿儀的極限真空度為10-6hPa，*多可同時為6根TEM樣品桿提供高真空存儲環境，避免暴露在空氣中吸附濕氣及納米纖維等雜質，減少樣品桿進電鏡后的抽真空時間，延長樣品桿使用壽命...

傳統透射電鏡表征技術只能得到材料的二維圖像無法準確直觀地表征材料的三維空間構造，近年來興起的三維重構技術可解決該問題，它是利用電子顯微技術與計算機圖像處理結合形成的三維重構方法，已漸漸在納米材料、生物科學領域得到重要應用。透射電鏡三維重構樣品桿是用于透射電子顯微鏡(TEM)中的一種關鍵設備，主要用于獲取材料的三維結構信息。透射電鏡三維重構樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，然后使用專門的軟件處理這些二維圖像，然后獲得樣品的三維立體成像信息。這種技術對于材料科...

透射電鏡高傾角冷凍傳輸系統是一種專門設計用于在透射電子顯微鏡(TEM)中傳輸和觀察冷凍生物樣本的系統。該系統結合了冷凍技術和透射電子顯微鏡技術，允許在保持樣本天然狀態的同時，獲得高分辨率的圖像。本公司提供的透射電鏡高傾角冷凍傳輸系統以創新設計及加工工藝，在透射電鏡樣品桿內搭建銅網伸縮載體和液氮冷凍傳輸模塊，可實現樣品在冷凍超低溫環境下的高分辨成像。該系統的優勢：創新設計，提高實驗效率1.降溫速度快，從樣品進入電鏡到-145℃時間≤40Min。2.穩定工作時間長，單次補充液氮可...