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材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關，在電子顯微鏡下觀察微觀結構離不開樣品桿或樣品臺。樣品桿的重要性還在于它是要插側入式的樣品放置在一個較長的金屬入物鏡，色差又與物鏡性能相關聯，這也就桿的*端，金屬通常是黃銅或不銹鋼，沿著使樣品桿與TEM的分辨率聯系在一起。透射電鏡4孔樣品桿可將最多4個樣品同時置入透射電鏡中，與市面常見的3孔樣品桿相比，大幅提高透射電鏡的使用效率。全新的結構設計及超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質量。透射電...

CreateWorld-LeadingIn-SituElectronMicroscopySolutions公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發研究者、國家高層次引進人才創辦的高科技企業，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應...

公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發研究者、國家高層次引進人才創辦的高科技企業，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應用，相關成果發表在Science、Nature子刊等SCI期刊上，服務包括北大、浙大等眾多高校和科研單位，...

力-熱系統系統組成圖1技術指標力-熱樣品臺高精度力學傳感芯片加熱芯片高精度控溫模塊三維運動控制模塊力學數據采集及計算模塊力學測試：壓縮、拉伸、恒定力、恒位移設備工作流程圖2視頻1鎢納米柱原位壓縮實驗測試前，利用FIB將樣品焊接加熱芯片端，將金剛石焊接在力學傳感端，力學測試過程中，加熱芯片跟隨運動控制模塊向前運動，并力學傳感芯片接觸受力，樣品在加熱條件下發生壓縮或拉伸。力學傳感器圖3運動控制模塊圖4高溫加熱模塊圖5應用案例圖6鎢納米柱受力發生彈性形變過程圖7鎢納米柱原位壓縮實驗...

力電原位系統是通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。鎢納米柱原位力學壓縮過程：鎢納米柱受力發生彈性形變過程中，彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結構材料應用的關鍵特征，位錯在調控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色，一般來說，位錯滑移...